UNIK9330 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrarød stråling
Beskrivelse av emnet
Kort om emnet
Avbildning med optikk. Radiometri, Plancks strålingslov, naturlige og kunstige kilder til synlig og infrarødt lys, forplantning av lys gjennom atmosfæren. Gjennomgang av forskjellige typer detektorer som omsetter lys til elektriske signaler, herunder fotodioder, fotoledere, bolometre og koherent deteksjon. Gjennomgang av støymekanismer i detektorer. Bildesensorer i ulike materialer, herunder silisium CCD og CMOS samt detektorer for termisk avbildning. Signalveien fra lys til digitale bildedata. Karakterisering av bildekvalitet. Kort om klassiske bildesensorer: film, kamerarør og øyet. Mye av stoffet illustreres med korte praktiske demonstrasjoner.
Hva lærer du?
Emnet gir innsikt i virkemåten til kameraer og andre optiske sensorer. Hovedvekten er på detektorer og bildesensorer, der vi finner opphavet til begrepet "megapixel". Emnet er rettet mot de som bruker eller utvikler optiske avbildnings- og sensorsystemer, og gir også nyttig bakgrunnsstoff for analyse av optiske bildedata.
Opptak og adgangsregulering
Ph.d.-kandidater ved UiO søker plass på undervisningen og melder seg til eksamen i Studentweb.
Hvis emnet har begrenset kapasitet, vil ph.d.-kandidater som har emnet i sin utdanningsplan ved UiO bli prioritert. Noen nasjonale forskerskoler kan ha egne regler for rangering av søkere til emner med begrenset kapasitet.
Ph.d.-kandidater som har opptak ved andre utdanningsinstitusjoner må innen angitt frist søke om hospitantplass.
Forkunnskaper
Anbefalte forkunnskaper
Det er nyttig med forkunnskaper tilsvarende de gitt av FYS3410 – Kondenserte fasers fysikk (videreført), og grunnleggende fysikk forøvrig. Noe kjennskap til elektronikk og/eller signalbehandling er også en fordel, men det blir gitt korte introduksjoner til stoff som hentes fra andre fagfelt.
Overlappende emner
- 10 studiepoeng overlapp mot UNIK4330 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrarød stråling (videreført)
- 10 studiepoeng overlapp mot TEK9050 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrarød stråling
- 10 studiepoeng overlapp mot TEK5050 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrarød stråling
Emnet overlapper 8 studiepoeng mot tidligere versjon av emnet, UNIKF351.
Undervisning
3 timer forelesning og regneøvelser pr. uke. Det kreves innlevering av obligatoriske oppgaver som må være bestått for å kunne gå opp til eksamen.
Eksamen
Muntlig eksamen. Ved stort antall kandidater kan det bli holdt skriftlig eksamen. De obligatoriske oppgavene må være godkjent for å kunne gå opp til eksamen.
Ph.d.-studenter skal i forhold til masterstudenter på den klonede versjonen av emnet (UNIK4330 – Avbildning og deteksjon av optisk og infrarød stråling (videreført)) levere en oppgave som demonstrerer god forståelse av en nærmere bestemt del av pensum. Dette blir også prøvet på eksamen. Tema for oppgaven kan tilpasses kandidatens bakgrunn og interesser. Oppgaven må være godkjent før avsluttende eksamen.
Begrunnelse og klage
Adgang til ny eller utsatt eksamen
Studenter som dokumenterer gyldig fravær fra ordinær eksamen, kan ta utsatt eksamen i starten av neste semester.
Det tilbys ikke ny eksamen til studenter som har trukket seg under ordinær eksamen, eller som ikke har bestått.
Tilrettelagt eksamen
Søknadskjema, krav og frist for tilrettelagt eksamen.